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Autoren: Ross, Andrew
Lebrun, Romain
Ulloa, Camilo
Grave, Daniel A.
Kay, Asaf
Baldrati, Lorenzo
Kronast, Florian
Valencia, Sergio
Rothschild, Avner
Kläui, Mathias
Titel: Structural sensitivity of the spin Hall magnetoresistance in antiferromagnetic thin films
Online-Publikationsdatum: 24-Nov-2020
Sprache des Dokuments: Englisch
Zusammenfassung/Abstract: Reading the magnetic state of antiferromagnetic (AFM) thin films is key for AFM spintronic devices. We investigate the underlying physics behind the spin Hall magnetoresistance (SMR) of bilayers of platinum and insulating AFM hematite (alpha-Fe2O3) and find an SMR efficiency of up to 0.1%, comparable to ferromagnetic-based structures. To understand the observed complex SMR field dependence, we analyze the effect of misalignments of the magnetic axis that arise during growth of thin films, by electrical measurements and direct magnetic imaging, and find that a small deviation can result in significant signatures in the SMR response. This highlights the care that must be taken when interpreting SMR measurements on AFM spin textures.
DDC-Sachgruppe: 530 Physik
530 Physics
Veröffentlichende Institution: Johannes Gutenberg-Universität Mainz
Organisationseinheit: FB 08 Physik, Mathematik u. Informatik
Veröffentlichungsort: Mainz
DOI: http://doi.org/10.25358/openscience-5271
Version: Accepted version
Publikationstyp: Zeitschriftenaufsatz
Weitere Angaben zur Dokumentart: Scientific article
Nutzungsrechte: in Copyright
Informationen zu den Nutzungsrechten: https://rightsstatements.org/page/InC/1.0/?language=en
Zeitschrift: Physical review : B
102
9
Seitenzahl oder Artikelnummer: Art. 094415
Verlag: APS
Verlagsort: College Park, Md.
Erscheinungsdatum: 2020
ISSN: 2469-9969
2469-9950
URL der Originalveröffentlichung: https://doi.org/10.1103/PhysRevB.102.094415
Enthalten in den Sammlungen:JGU-Publikationen

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