Entwicklung und Test eines Röntgeninterferometers auf der Basis von Übergangsstrahlung

dc.contributor.authorKettig, Oliver
dc.date.accessioned2000-12-31T23:00:00Z
dc.date.available2001-01-01T00:00:00Z
dc.date.issued2001
dc.description.abstractIn der vorliegenden Arbeit werden Entwicklung und Test einesneuartigen Interferometers mit zwei örtlich separierten,phasenkorrelierten Röntgenquellen zur Messung des Realteilsdes komplexen Brechungsindex von dünnen, freitragendenFolien beschrieben. Die Röntgenquellen sind zwei Folien, indenen relativistische Elektronen der Energie 855 MeVÜbergangsstrahlung erzeugen. Das am Mainzer Mikrotron MAMIrealisierte Interferometer besteht aus einer Berylliumfolieeiner Dicke von 10 Mikrometer und einer Nickel-Probefolieeiner Dicke von 2.1 Mikrometer. Die räumlichenInterferenzstrukturen werden als Funktion desFolienabstandes in einer ortsauflösenden pn- CCD nach derFourier-Analyse des Strahlungsimpulses mittels einesSilizium-Einkristallspektrometers gemessen. Die Phase derIntensitätsoszillationen enthält Informationen über dieDispersion, die die in der strahlaufwärtigen Folie erzeugteWelle in der strahlabwärtigen Probefolie erfährt. AlsFallstudie wurde die Dispersion von Nickel im Bereich um dieK-Absorptionskane bei 8333 eV, sowie bei Photonenenergien um9930 eV gemessen. Bei beiden Energien wurden deutlicheInterferenzstrukturen nachgewiesen, wobei die Kohärenz wegenWinkelmischungen mit steigendem Folienabstand bzw.Beobachtungswinkel abnimmt. Es wurden Anpassungen vonSimulationsrechnungen an die Messdaten durchgeführt, die diekohärenzvermindernden Effekte berücksichtigen. Aus diesenAnpassungen konnte bei beiden untersuchten Energien dieDispersion der Nickelprobe mit einer relativen Genauigkeitvon kleiner gleich 1.5 % in guter Übereinstimmung mit derLiteratur bestimmt werden.de_DE
dc.description.abstractThe present work descibes development and test of a novelinterferometer with two spatially seperated, phasecorrelated x-ray sources for the measurement of the realpart of the complex index of refraction of thin foils. Thex-ray sources are two foils in which transition radiation isemitted by relativistic 855 MeV electrons. Theinterferometer at the Mainz Microtron MAMI consists of a 10micron beryllium foil and a 2.1 micron nickel sample. Thespatial interference structures are measured with a pn-CCDas function of foil distance after Fourier analysation ofthe radiation pulse in a silicon single crystalspectrometer. The phase of the interference oscillationscarries the information about the dispersion of thedownstream sample foil. As test case the dispersion ofnickel was measured around the nickel K-absorption edge at8333 eV as well as around 9930 eV. At both energies distinctinterference structures were recorded, but due to anglemixing the coherence drops with increasing foil distance andobservation angle. Fits with simulation calculations wereperformed which include the coherence spoiling effects. Withthese fits the dispersion of nickel was determined at bothenergies with a relative error smaller equal 1.5 % in goodagreement with literature.en_GB
dc.identifier.doihttp://doi.org/10.25358/openscience-1108
dc.identifier.urihttps://openscience.ub.uni-mainz.de/handle/20.500.12030/1110
dc.identifier.urnurn:nbn:de:hebis:77-1565
dc.language.isoger
dc.rightsInC-1.0de_DE
dc.rights.urihttps://rightsstatements.org/vocab/InC/1.0/
dc.subject.ddc530 Physikde_DE
dc.subject.ddc530 Physicsen_GB
dc.titleEntwicklung und Test eines Röntgeninterferometers auf der Basis von Übergangsstrahlungde_DE
dc.typeDissertationde_DE
jgu.organisation.departmentFB 08 Physik, Mathematik u. Informatik
jgu.organisation.nameJohannes Gutenberg-Universität Mainz
jgu.organisation.number7940
jgu.organisation.placeMainz
jgu.organisation.rorhttps://ror.org/023b0x485
jgu.organisation.year2001
jgu.rights.accessrightsopenAccess
jgu.subject.ddccode530
jgu.type.dinitypePhDThesis
jgu.type.resourceText
jgu.type.versionOriginal worken_GB
opus.date.accessioned2000-12-31T23:00:00Z
opus.date.available2001-01-01T00:00:00
opus.date.modified2000-12-31T23:00:00Z
opus.identifier.opusid156
opus.institute.number0800
opus.metadataonlyfalse
opus.organisation.stringFB 08: Physik, Mathematik und Informatik: FB 08: Physik, Mathematik und Informatikde_DE
opus.type.contenttypeDissertationde_DE
opus.type.contenttypeDissertationen_GB

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