Gutenberg Open Science: Untersuchungen an Halbleitermikro- und -nanokristallen mittels korrelativer Rasterkraft- und konfokaler Fluoreszenzmikroskopie

Please use this identifier to cite or link to this item: http://doi.org/10.25358/openscience-8961

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DC Field	Value	Language
dc.contributor.advisor	Basché, Thomas	-
dc.contributor.author	Galle, Marco Hans Jürgen Jakob	-
dc.date.accessioned	2023-04-06T06:12:01Z	-
dc.date.available	2023-04-06T06:12:01Z	-
dc.date.issued	2023	-
dc.identifier.uri	https://openscience.ub.uni-mainz.de/handle/20.500.12030/8977	-
dc.description.abstract	Die Kombination von konfokaler Fluoreszenz- mit Rasterkraftmikroskopie bietet vielf ältige Möglichkeiten zur Untersuchung und Charakterisierung von Halbleiterpartikeln. Beide Methoden ergänzen sich und liefern als bildgebende Verfahren sehr unterschiedliche Informationen. Darüber hinaus kann das Rasterkraftmikroskop zur nanoskopischen Kraftausübung auf Probenpartikel verwendet werden. In dieser Arbeit wurden drei verschiedene Sorten von Halbleiterpartikeln untersucht. An CdSe-basierten Quantenpunkt-Aggregaten wurden Energietransfere zienzen bestimmt, wobei die Kombination beider Mikroskopietechniken zur Unterscheidung unterschiedlich zusammengesetzter Aggregate diente. Mittels axialer Kraftaus- übung durch die Spitze des Rasterkraftmikroskops konnten die Energietransferraten beein usst werden. Mit umfangreichen spektroskopischen Untersuchungen an quasi- 2-dimensionalen CdSe-basierten Nanoplättchen konnten verschiedene Ein üsse auf die photophysikalischen Eigenschaften charakterisiert werden, darunter unterschiedliche Anregungsintensitäten und -Arten. Auÿerdem wurde der Ein uss mechanischer Kräfte auf die Photolumineszenz untersucht. Als dritte Sto klasse wurden halbleitende MAPbI3-Partikel gezielt mechanisch beschädigt und der Ein uss auf die Photolumineszenzeigenschaften untersucht. Dabei konnten neue Erkenntnisse über sogenannte self-healing Prozesse der Photolumineszenz erlangt werden.	de_DE
dc.description.abstract	The combination of Confocal Fluorescence Microscopy and Atomic Force Microscopy o ers diverse possibilities of analyzation and characterization of semi conductor particles. Both methods complement one another and provide as imaging tools diverse information. Furthermore, the atomic force microscope can be used as a tool to apply nanoscopic forces on sample particles. Within this thesis three di erent kinds of semi conductor particles were analyzed. Energy transfer e ciencies of CdSe-based quantum dot-aggregates were determined whereat the combination of both microscopic techniques was used to distinguish between di erently composed aggregates. Through application of an axial force using the tip of the atomic force microscope, energy transfer rates could be in uenced. By extensive spectroscopic studies on quasi-2-dimensional CdSe-based Nanoplatelets di erent dependencies on the photophysical properties could be characterized, such as di erent excitation intensities and ways of excitation. Besides, the in uence of mechanical forces on the photoluminescence was tested. As a third material class, semi conducting MAPbI3-particles were mechanically damaged and the in uence on photoluminescence characteristics was analyzed. Hereby, new insights in so called self healing processes of photoluminescence could be attained.	en_GB
dc.language.iso	ger	de
dc.rights	CC BY-SA	*
dc.rights.uri	https://creativecommons.org/licenses/by-sa/4.0/	*
dc.subject.ddc	540 Chemie	de_DE
dc.subject.ddc	540 Chemistry and allied sciences	en_GB
dc.title	Untersuchungen an Halbleitermikro- und -nanokristallen mittels korrelativer Rasterkraft- und konfokaler Fluoreszenzmikroskopie	de_DE
dc.type	Dissertation	de
dc.identifier.urn	urn:nbn:de:hebis:77-openscience-d56ef24f-ac9a-4d44-8d3b-dc7922cab5d20	-
dc.identifier.doi	http://doi.org/10.25358/openscience-8961	-
jgu.type.dinitype	doctoralThesis	en_GB
jgu.type.version	Original work	de
jgu.type.resource	Text	de
jgu.date.accepted	2023-03-27	-
jgu.description.extent	253 Seiten ; Illustrationen, Diagramme	de
jgu.organisation.department	FB 09 Chemie, Pharmazie u. Geowissensch.	de
jgu.organisation.year	2022	-
jgu.organisation.number	7950	-
jgu.organisation.name	Johannes Gutenberg-Universität Mainz	-
jgu.rights.accessrights	openAccess	-
jgu.organisation.place	Mainz	-
jgu.subject.ddccode	540	de
jgu.organisation.ror	https://ror.org/023b0x485	-
Appears in collections:	JGU-Publikationen

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	untersuchungen_an_halbleiterm-20230329102059643.pdf		40.69 MB	Adobe PDF	View/Open

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