Please use this identifier to cite or link to this item: http://doi.org/10.25358/openscience-877
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dc.contributor.authorJacob, Georg
dc.date.accessioned2017-07-03T22:03:23Z
dc.date.available2017-07-04T00:03:23Z
dc.date.issued2017
dc.identifier.urihttps://openscience.ub.uni-mainz.de/handle/20.500.12030/879-
dc.description.abstractThis work reports on the construction and setup of a single ion source experiment on the basis of a linear Paul trap to the aim of deterministic ion implantation and single ion microscopy. Single 40 Ca + ions at energies ranging from 0.3 to 6 keV were extracted from the trap at a maximum rate of 3 ions per second. The beam divergence was measured to be 23.7 ± 2.5 μrad, at an energy dispersion of 174 meV, limited by the noise of the extraction voltage. Focussing of the beam with an electrostatic einzel lens to a 1-σ radius of 5.8 ± 1.0 nm was demonstrated, where the minimum two-sample deviation of the beam position in the focal plane has been determined to be 1.5 nm, when integrating over a period of 9 hours. For the purpose of single ion implantation, molecular nitrogen ions were trapped and sympathetically cooled. Subsequent extraction and implantation of these ions has been carried out and the creation of single nitrogen vacancy colour centres in diamond by this method was shown. For the first time, a single particle microscope was realised, which employs deterministically extracted calcium ions as probe particles for transmission imaging. Even when used in combination with an imperfect detector, this showed a 5 times higher signal-to-noise ratio as compared to microscopy with a conventional particle source, which is subject to Poissonian emission properties. Moreover, it was demonstrated, that the gain in spatial information can be maximised by employing the Bayes experimental design technique, when imaging structures with a parametrisable transmission function. In addition, the precise timing of the extraction event was used to gate the detector and in this way suppress detector dark counts by 6 orders of magnitude. Furthermore, various future applications of the deterministic single ion source for novel types of microscopy or material doping are discussed.en_GB
dc.description.abstractDiese Arbeit behandelt die Konstruktion und den Aufbau einer Einzelionenquelle auf der Grundlage einer linearen Paulfalle, zur deterministischen Implantation und Mikroskopie mit einzelnen Ionen. Es wurden einzelne 40 Ca + Ionen mit Energien von 0,3 bis 6 keV bei einer maximalen Rate von drei Ionen pro Sekunde aus der Falle extrahiert. Dabei wurde eine Strahldivergenz von 23,7 ± 2.5 μrad, sowie eine Energiedispersion von 174 meV, begrenzt durch das Rauschen der Extraktionsspannung, gemessen. Der Strahl wurde auf einen 1-σ Radius von 5,8 nm fokussiert, wobei eine minimale Zweiwert-Abweichung der Strahlposition in der Fokusebene von 1,5 nm während einer Messdauer von neun Stunden erzielt werden konnte. Um molekulare Stickstoffionen zu implantieren wurden diese zunächst gefangen und sympathetisch gekühlt. Mit einer anschließend durchgeführten Extraktion und Implantation dieser Ionen konnten Stickstoff Farbzentren in Diamant erzeugt werden. Durch Einsetzen dieser Kalzium Ionen als Sonden gelang es zum ersten Mal ein deterministisches Einzelionenmikroskop zu realisieren. Im Vergleich zur Mikroskopie mit einer konventionellen poissonschen Teilchenquelle konnte so, selbst mit einem nicht idealen Detektor, ein fünfmal höheres Signal zu Rausch Verhältnis gemessen werden. Zudem wurde gezeigt, dass durch das Verwenden des Bayes experimental design Verfahrens der Informationsgewinn pro Teilchen beim Abbilden von Strukturen mit einer parametrisierbaren Transmissionsfunktion, maximiert werden kann. Zusätzlich wurde der genaue Zeitpunkt des Extraktionsereignisses dazu genutzt die Auslese des Detektors nur in einem bestimmten Zeitfenster zu aktivieren und so die Dunkelzählrate um sechs Größenordnungen zu unterdrücken. Im Hinblick auf zukünftige Anwendungen werden verschiedene Verbesserungen der deterministischen Einzelionenquelle für den Einsatz in der Mikroskopie und zur Festkörperdotierung diskutiert.de_DE
dc.language.isoeng
dc.rightsInCopyrightde_DE
dc.rights.urihttps://rightsstatements.org/vocab/InC/1.0/
dc.subject.ddc530 Physikde_DE
dc.subject.ddc530 Physicsen_GB
dc.titleIon implantation and transmission microscopy with nanometer resolution using a deterministic ion sourceen_GB
dc.typeDissertationde_DE
dc.identifier.urnurn:nbn:de:hebis:77-diss-1000013978
dc.identifier.doihttp://doi.org/10.25358/openscience-877-
jgu.type.dinitypedoctoralThesis
jgu.type.versionOriginal worken_GB
jgu.type.resourceText
jgu.description.extentx, 125 Seiten
jgu.organisation.departmentFB 08 Physik, Mathematik u. Informatik-
jgu.organisation.year2017
jgu.organisation.number7940-
jgu.organisation.nameJohannes Gutenberg-Universität Mainz-
jgu.rights.accessrightsopenAccess-
jgu.organisation.placeMainz-
jgu.subject.ddccode530
opus.date.accessioned2017-07-03T22:03:23Z
opus.date.modified2017-07-10T09:43:52Z
opus.date.available2017-07-04T00:03:23
opus.subject.dfgcode00-000
opus.organisation.stringFB 08: Physik, Mathematik und Informatik: Institut für Physikde_DE
opus.identifier.opusid100001397
opus.institute.number0801
opus.metadataonlyfalse
opus.type.contenttypeDissertationde_DE
opus.type.contenttypeDissertationen_GB
jgu.organisation.rorhttps://ror.org/023b0x485
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